铜薄片电阻焊失效分析,试验中,哪位有独到见解?
时间不多,速度上图: 1# bad 2# good 是0.35mm的铜薄片电阻对焊,其中一面凸点0.3mm高。 图中可见2#焊点形成了完整焊核,拉拔强度大于200N。 1#焊点有熔融现象,焊点下方的温度过高,拉拔强度小于80N。 由于是量产的产品,没有明显的工艺参数变化,突然就出现这种熔核位置空洞的不良现象。 初步分析:电极损耗后,夹紧的相对位置发生变化,由于1# 和 2#焊点夹紧接触时是略有区别的,因此导致焊接时1#未能有效夹紧。导致接触电流异常,能量过大或不均匀,导致局部熔化。 对策:定做新的电极,调整夹紧位置 目前仍在试验,未有结果。各位大侠来一展身手,发表你们的独到见解。