铜薄片电阻焊失效分析,试验中,哪位有独到见解?

panycbob12-24 22:00

时间不多,速度上图: 1# bad 2# good 是0.35mm的铜薄片电阻对焊,其中一面凸点0.3mm高。 图中可见2#焊点形成了完整焊核,拉拔强度大于200N。 1#焊点有熔融现象,焊点下方的温度过高,拉拔强度小于80N。 由于是量产的产品,没有明显的工艺参数变化,突然就出现这种熔核位置空洞的不良现象。 初步分析:电极损耗后,夹紧的相对位置发生变化,由于1# 和 2#焊点夹紧接触时是略有区别的,因此导致焊接时1#未能有效夹紧。导致接触电流异常,能量过大或不均匀,导致局部熔化。 对策:定做新的电极,调整夹紧位置 目前仍在试验,未有结果。各位大侠来一展身手,发表你们的独到见解。

2回答
和铄HOSO12-24 22:44
看的不是很清楚,是不是电极选择的问题
午子仙毫12-24 22:33
没有看到现场,推断,1装夹,电极有变化使凸点接触形状发生变化,局部能量过于集中,融化部分变少,脱拔力减小。、 1应对方法,跟换电极,装夹模具和铜片的接触面积,用双凸点可以减小不良品的发生生、
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